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顯微鏡測量顆粒直徑時-測量顆粒投影像的尺寸

發(fā)布日期：2019-05-27 作者：admin 點擊：

顯微鏡測量顆粒直徑時-測量顆粒投影像的尺寸

顯微鏡法

使用顯微鏡可以直接觀測到顆粒的形狀和大小，可以直接用觀察到的幾何圖像確定顆粒的尺寸，所以顯微鏡法往往作為其它間接測定方法的基準(zhǔn)。這種方法所需的試樣分量不多，靈敏度較高；不僅可以直接觀察，而且還可以通過拍攝將結(jié)果記錄下來。這些都是其它方法比不上的優(yōu)點。

另一方面，由于所取的試樣分量很少，所以這種方法對試樣有無代表性的要求甚嚴(yán)。同時對試樣的制備技術(shù)要求也比較嚴(yán)格。用顯微鏡觀測顆粒的尺寸時，有著許多獨特的表示方法。因此，充分了解各種顆粒直徑的意義便顯得格外重要。

使用顯微鏡測量顆粒直徑時，通常都是測量顆粒投影像的尺寸。除了必須測量厚度的特殊情況之外，一般只限于測定顆粒的平面像。

激光衍射撒射法粒度分布測定儀

前已提及，使用激光測定顆粒的尺寸分布時，較粗的顆粒宜用衍射法，較細(xì)的顆粒宜用散射法。為了擴(kuò)展測定范圍，最近出產(chǎn)的光學(xué)顆粒測定儀，已不再單純使用一種方法，而是將衍射法和散射法合并在同一臺測定儀器中，這便是衍射撒射法粒度分布測定儀。在這種儀器中，對于lO,tm以上的顆粒用Fraunhofer衍射進(jìn)行測定；對于0．4—10t~m的顆粒則用Mie散

射理論分析。若要將測定對象擴(kuò)展到0．4弘m以下的顆粒，由于在其散射圖中幾乎看不到因顆粒直徑的不同而引起的差別，所以要從散射圖中得出正確的數(shù)據(jù)是有困難的。為此，還得在儀器中添加偏光散射的集光裝置，以彌補(bǔ)這方面的不足，從而能夠一直測到小至