電子顯微鏡的分類

發(fā)布日期：2022-12-15 作者：點擊：

其實，常見的類型主要有3種：透射電鏡 TEM、掃描電鏡SEM以及反射電鏡REM。

一、透射電子顯微鏡 TEM

透射電子顯微鏡是電子顯微鏡的原始類型，它的主要原理是將高壓電子束引導(dǎo)至樣品以照亮樣品并發(fā)生樣品的擴大圖畫。由于透射電鏡具有原位查詢、高分辯顯像等功能，適合查詢光學(xué)顯微鏡查詢不到的纖細(xì)結(jié)構(gòu)。比方：細(xì)胞、安排剖析、晶體結(jié)構(gòu)等。

透射電鏡

透射電鏡顯微成像原理是：經(jīng)過鎢絲電極的陰極發(fā)射電子束，再用陽極加快電子束，當(dāng)電子束穿過標(biāo)本時，它會發(fā)生散射，并供給標(biāo)本微觀結(jié)構(gòu)的圖畫，可以經(jīng)過顯微鏡的物鏡查詢到。其間的靜電和電磁透鏡均有助于電子束的聚集。

可以經(jīng)過將圖畫投影到熒光硫化鋅涂層屏幕上來查看空間改變?？捎糜谟涊d圖畫的另一種方法是將照相膠片放入電子束中，電子束將記載圖畫。也可以使用數(shù)碼相機在計算機屏幕上實時顯示圖畫。球面像差傳統(tǒng)上限制了透射電子顯微鏡的分辯率。但是，近些年來的技能改善，可以經(jīng)過球面像差的硬件校正來進步分辯率。因而，現(xiàn)在可以生成分辯率低于 0.5 埃、擴大倍率超越 5000 萬倍的圖畫。

透射顯微鏡適合的樣品厚度，一般小于 100 nm。因而，大多數(shù)生物標(biāo)本需求經(jīng)過化學(xué)固定和脫水，才能嵌入聚合物樹脂中，以方便 TEM的查詢。

二、掃描電子顯微鏡 SEM

掃描電鏡的使用較為遍及，掃描電子顯微鏡原理是：經(jīng)過光柵掃描技能來發(fā)生標(biāo)本的擴大圖畫。它引導(dǎo)聚集的電子束穿過樣品的矩形區(qū)域，當(dāng)電子束經(jīng)過時會發(fā)生能量丟失。該能量會被轉(zhuǎn)化成熱、光、二次電子等能量同時反向散射電子。此時經(jīng)過軟件體系進行翻譯轉(zhuǎn)化后得到清晰的標(biāo)本圖畫信息。從成像原理剖析，掃描電子顯微鏡的分辯率會比透射電子顯微鏡的分辯率稍差。但它的優(yōu)勢在于可以使用表面處理，創(chuàng)立大樣本的圖畫，尺度可達(dá)幾厘米，并且具有較大的景深。因而，來自 SEM 的圖畫可以較好地表達(dá)樣品的真實形狀。

此外，一種稱為環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM) 的特定類型的 SEM 可以對濕潤或包含在氣體中的樣品進行成像。這增加了顯微鏡可以使用的可使用范圍。

三、反射電子顯微鏡 REM

反射電子顯微鏡涉及檢測從被查看的樣品反射的彈性散射電子束。反射高能電子衍射 (RHEED) 和反射高能丟失光譜 (RHELS) 技能一般用于此類顯微鏡。由于電子顯微鏡的原理及用途也各不相同，所以使用領(lǐng)域也不同。比方：TEM透射電鏡廣泛使用于科研實驗室主要用于來研究細(xì)菌、安排切片和其他微生物。另外，SEM 還經(jīng)常用于資料科學(xué)研究的測驗和毛病剖析，查看高溫下的超導(dǎo)體、合金強度和納米管，最終影響電子產(chǎn)品對航空航天業(yè)的影響。掃描電子顯微鏡還常用于法醫(yī)查詢。比方：經(jīng)過 SEM 所供給的擴大倍數(shù)，來剖析依據(jù)類型的來歷，然后得出與法律意圖相關(guān)的查詢定論。阿爾法生物供給的實驗室儀器設(shè)備，顯微鏡包括生物顯微鏡，光學(xué)顯微鏡，電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡，細(xì)胞掃描成像體系，熒光顯微鏡，反射電子顯微鏡等。什么是共聚集顯微鏡？

大視場顯微鏡